• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة
  • ورود / ثبت نام
تعداد ۱۱ پاسخ غیر تکراری از ۱۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۳۶ ثانیه یافت شد.

1. Adsorption on ordered surfaces of ionic solids and thin films : proceedings of the 106th WE-Heraeus Seminar, Bad Honnef, Germany, February 15-18, 1993

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: W.E. Heraeus Seminar )601th: 3991: Bad Honnef, Germany(

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Surfaces )Physics(-- Effect of radiation on-- Congresses,، Adsorption-- Congresses,، Thin films-- Effect of radiation on-- Congresses,، Ionic crystals-- Effect of radiation on-- Congresses,، Surface chemistry-- Congresses

رده :
QC
173
.
4
.
S94
.
W17
1993

2. Characterization of amorphous and crystalline rough surface

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: / Yiping Zhao, Gwo-Ching Wang and Toh-Ming Lu

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Surfaces (Physics),Thin films--Surfaces,Surface chemistry.

رده :
QC
,
173
.
4
,.
S94
,
Z43
,
2001

3. Characterization of amorphous and crystalline rough surface :

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Surfaces (Physics) ; Thin films ; Surfaces ; Surface chemistry ;

رده :

4. Ellipsometry of functional organic surfaces and films

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors

المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع: ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials

رده :
QC443

5. Ellipsometry of functional organic surfaces and films

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: / Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors

المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Ellipsometry,Physics,Surface and Interface Science, Thin Films,Surfaces and Interfaces, Thin Films,Physical Chemistry,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,Characterization and Evaluation of Materials

رده :
E-BOOK

6. Introduction to surface and thin film processes

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: Venables, John

المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)

موضوع: ، Thin films,، Surface chemistry,، Surfaces )Physics(

رده :
QC
176
.
83
.
V46
2000

7. Introduction to surface and thin film processes

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: / John A. Venables

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Thin films.,Surface chemistry.,Thin films.,Surfaces (Physics),Surface chemistry.

رده :
QC
,
176
.
83
,.
V46
,
2000

8. Poly(o-aminophenol) film electrodes

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: Ricardo Tucceri

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Electrochemistry,Electrodes,Surface chemistry,Surfaces (Physics),Thin films-- Electric properties,Thin-film circuits

رده :
QD553

9. The film and depth profile analysis

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: Edited by H. Oechsner

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Thin films - Surfaces,Surface chemistry,Sputtering (physics)

رده :
QC
,
176
.
84
,.
S93T46
,
1984

10. Thin film and depth profile analysis

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف: edited by H., Oechsner; with contributions by H.-W. Etzkorn...]et al.[

المکتبة: (طهران)

موضوع: Surfaces ، Thin films,، Surface chemistry,، Sputtering )Physics(

رده :
QC
176
.
84
.
S93T46
1984

11. Thin film processing and characterization of high-temperature superconductors, Anaheim, CA, 1987

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Congresses ، Superconductors,Congresses ، Sputtering )Physics(,Congresses ، Thin films-- Surfaces,Congresses ، Materials at high temperatures,Congresses ، Surface chemistry

رده :
QC
611
.
9
.
T47
1988
  • »
  • 1
  • «

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال